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专利名称：一种张膜式反光镜的焦距控制与测量方法及装置专利类型：发明专利
发明人：李斌,李安定,臧春城,郑飞,李鑫申请号：CN200310121159.0申请日：20031222公开号：CN1632498A公开日：20050629
摘要：张膜式反光镜焦距控制测量方法和装置，由点光源系列组成环状光源，环状光源发出的光线经过毛玻璃、分划板和凸透镜后转变为模拟太阳光[14]，模拟太阳光[14]投射到反光镜镜面[18]后发射汇聚到焦点处，形成亮斑，位于模拟太阳光发射器[13]及成像平面上方的CCD测控系统，对亮斑进行图像采集，计算机对亮斑图像进行分析处理，即得出反光镜的焦距。应用本发明方法的测量装置由CCD测控系统，模拟太阳光发射器[13]及成像平面[12]，模拟太阳光发射器－成像平面随动机构，张膜式反光镜成型系统，计算机[22]测控系统等部分组成。本发明系统简单，成本低廉，适用性广，可用于已定型的抛物型(准抛物型)碟式反光镜的焦距测量及张膜式反光镜成型过程中焦斑质量的控制。
申请人：中国科学院电工研究所
地址：100080 北京市海淀区中关村北二条6号
国籍：CN
代理机构：北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人：关玲
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