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一种平面离子阱质量分析器[发明专利]

来源:华拓科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种平面离子阱质量分析器专利类型:发明专利

发明人:聂宗秀,张硕,张宁,熊彩侨,占铃鹏,田晶申请号:CN201310526923.6申请日:20131030公开号:CN103606509A公开日:20140226

摘要:本发明公开了一种平面离子阱质量分析器。所述质量分析器包括相对设置的2组导电板,其中一侧的导电板为直流电极板,另一侧的导电板包括接地电极、2个射频电极和若干个直流控制电极;所述接地电极、所述射频电极和所述直流控制电极位于同一平面内,且所述射频电极位于所述接地电极的两侧,所述直流控制电极位于所述射频电极的外侧;所述接地电极与所述射频电极之间、所述射频电极与所述直流控制电极之间以及所述直流控制电极之间均设有绝缘空隙。本发明在制造时所采用的技术成熟可靠,成本低廉,尤其是在大批量制作时,其成本优势非常明显。本发明在样品设计和模具制造时采用的计算机辅助设计技术,较传统手工方式更加简便快捷,快速直观。

申请人:中国科学院化学研究所

地址:100190 北京市海淀区中关村北一街2号

国籍:CN

代理机构:北京纪凯知识产权代理有限公司

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